ISO/IEC JTC 1/SC 43第五届全会 暨脑机接口技术与标准国际研讨会顺利举行

9月4日，ISO/IEC JTC 1/SC 43第五届全会暨脑机接口技术与标准国际研讨会在澳大利亚悉尼举行。IEC澳大利亚国家委员会主席和JTC 1 澳大利亚战略咨询委员会主席Ian Oppermann博士出席并致辞，电子标准院技术总监、ISO/IEC JTC 1/SC 43主席余云涛、澳大利亚标准协会项目官Romaine Crawford女士等嘉宾出席会议。会议由澳大利亚专家Kim YAN主持。

研讨会邀请了来自中国、澳大利亚、韩国、意大利、印度等国的14位专家围绕脑机接口技术演进、产品研发、商业化、场景应用、科技伦理和安全等方面作了主题报告。

本次会议由ISO/IEC JTC 1/SC 43主办，澳大利亚标准协会承办，IEC Academy协办。来自中国、澳大利亚、美国、英国、印度、意大利、韩国、日本等国的ISO/IEC JTC 1/SC 43国际专家，以及来自相关企业、科研院所200余名代表参加了会议。